LS-VCS-NF激光近场测量系统 激光近场测量系统专门针对VCSEL近场测试研发,在特定显微区域实现对VCSEL芯片发光效果、能量分布、光斑尺寸,以及稳定性进行测试。可测量发光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子M²。
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2024-12-28 - 02
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