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激光近场测量系统

  • 产品型号:LS-VCS-NF
  • 更新时间:2024-12-28

简要描述:激光近场测量系统专门针对VCSEL近场测试研发,在特定显微区域实现对VCSEL芯片发光效果、能量分布、光斑尺寸,以及稳定性进行测试。可测量发光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子M²。

产品详情

激光近场测量系统

型号:LS-VCS-NF

 

随着物联网、AI5G技术的发展,VCSELVerticalCavitySurfaceEmittingLaser,垂直共振腔表面放射激光)技术作为3D成像和传感系统的核心技术,目前在人脸识别、3D感测、汽车自动驾驶、手势侦测和VR(虚拟现实)/AR(增强现实)/MR(混合现实等应用领域越来越受到关注。可以为客户提供VCSEL-3DSENSING/TOF检测解决方案:LIV光谱/功率积分测试、NF近场特性测试、FF远场特性测试、BRDF/BTDF光学材料AR/VR特性测试、VCSEL专用积分球。以实现客户对VCSEL/MiniLED/MicroLED单体、模组、及晶圆芯片的能量分布和均匀性测量、光谱波长及功率测量、近场远场测量等各种定制化应用需求。

 

专门针对VCSEL近场测试研发,在特定显微区域实现对VCSEL芯片发光效果、能量分布、光斑尺寸,以及稳定性进行测试。可测量发光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子

激光近场测量系统 

技术优势特点:

l                      光谱范围:400-1000nm/900-1700nm

l                      采用917万像素相机进行数据采集,采集数据分辨率高

l                      光路配置可根据光强功率旋转滤光轮,选择衰减片:OD0.3-OD4,共6种滤光片

l                      可测量微小束腰的激光:10倍物镜≥10μm20倍物镜≥5μm

l                      近场光路系统(直接耦合成像镜头和光路模块,一体化设计)

l                      实时监测光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子M2

 

激光近场测量系统 

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激光近场测量系统主要技术指标:

激光近场测量系统 

 

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