我们相信好的产品是信誉的保证!
咨询热线:
15220080939致力于成为更好的解决方案供应商!
简要描述:激光近场测量系统专门针对VCSEL近场测试研发,在特定显微区域实现对VCSEL芯片发光效果、能量分布、光斑尺寸,以及稳定性进行测试。可测量发光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子M²。
激光近场测量系统
型号:LS-VCS-NF
随着物联网、AI、5G技术的发展,VCSEL(VerticalCavitySurfaceEmittingLaser,垂直共振腔表面放射激光)技术作为3D成像和传感系统的核心技术,目前在人脸识别、3D感测、汽车自动驾驶、手势侦测和VR(虚拟现实)/AR(增强现实)/MR(混合现实等应用领域越来越受到关注。可以为客户提供VCSEL-3DSENSING/TOF检测解决方案:LIV光谱/功率积分测试、NF近场特性测试、FF远场特性测试、BRDF/BTDF光学材料AR/VR特性测试、VCSEL专用积分球。以实现客户对VCSEL/MiniLED/MicroLED单体、模组、及晶圆芯片的能量分布和均匀性测量、光谱波长及功率测量、近场远场测量等各种定制化应用需求。
专门针对VCSEL近场测试研发,在特定显微区域实现对VCSEL芯片发光效果、能量分布、光斑尺寸,以及稳定性进行测试。可测量发光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子M²。
技术优势特点:
l 光谱范围:400-1000nm/900-1700nm
l 采用917万像素相机进行数据采集,采集数据分辨率高
l 光路配置可根据光强功率旋转滤光轮,选择衰减片:OD0.3-OD4,共6种滤光片
l 可测量微小束腰的激光:10倍物镜≥10μm,20倍物镜≥5μm
l 近场光路系统(直接耦合成像镜头和光路模块,一体化设计)
l 实时监测光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子M2
激光近场测量系统主要技术指标:
扫码加微信