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产品型号：iSpec-XSR400
更新时间：2024-12-31简要描述：微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低维材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。
微纳器件光谱响应度测试系统
型号：iSpec-XSR400
iSpec-XSR400系列是一款专用于低维材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。
产品特点及优势：
l 光源可选氙灯光源、超连续白光光源、连续激光器、皮秒脉冲激光器
l 制冷样品台温度范围-196℃-600℃（-196摄氏度需要选择专用冷却系统）
l 示波器采样率可达5GS/S，记录长度10M
l 可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试
产品应用：
l 光谱响应度
l 外量子效率
l 单色光/变功率IV
l 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）
l 不同偏压下的IT曲线
l LBIC，Mapping
l 线性度测试
l 响应速率测试
微纳器件光谱响应度测试系统主要技术指标：
低维材料（如石墨烯、碳纳米管、二氧化钨、过渡金属硫化物等）因其光电特性而受到广泛关注。这些材料的光电测试是为了评估它们在电子器件、光电子器件和存储器等方面的应用潜力。
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