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ZEISS/蔡司Sigma 系列产品扫描显微镜

  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-11-27

简要描述:ZEISS/蔡司Sigma 系列产品扫描显微镜结合了场发射扫描电子显微镜技术和高级分析性能,用于颗粒、表面和纳米结构成像。Sigma 的4步半自动工作流程节省了大量的工作时间.

产品详情

ZEISS/蔡司Sigma 系列产品扫描显微镜

 

结合了场发射扫描电子显微镜技术和高级分析性能,用于颗粒、表面和纳米结构成像。Sigma 4步半自动工作流程节省了大量的工作时间.

 

介绍

 

灵活的探测,4步工作流程,高级的分析性能

 

将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。

 

Sigma 360 性价比高。Sigma 560 装配的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得准确、可重复的分析结果。

 

ZEISS/蔡司Sigma 系列产品扫描显微镜特点

 

用于清晰成像的灵活探测

 

    利用优良探测术为您的需求定制 Sigma,表征所有样品。

 

    利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。

 

    利用新一代的二次探测器,获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D  可变压力探测器,在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

 

自动化加速工作流程

 

    4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中,从快速成像和节省培训首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。

 

    首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。

 

    接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步,将结果可视化。

 

高级分析型显微镜

 

    将扫描电子显微镜与基本分析相结合:Sigma 背散射几何探测器大大提升了分析性能,特别是对电子束敏感的样品。

 

    在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

 

    获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角,获取完整且无阴影的分析结果。

 

Gemini光学元件

 

基于成熟的 Gemini 技术

 

● Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响,并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。

 

● Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率,通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。

 

● Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪

 

灵活的探测

 

用于清晰成像的灵活探测

 

利用新的探测技术表征所有的样品。

 

在高真空模式下利用创新的 ETSE  in-lens 探测器获取形貌和高分辨率的信息。

 

在可变压力模式下利用可变压力二次电子和 C2D 探测器获取锐利的图像。

 

利用 aSTEM 探测器生成高分率透射图像。

 

利用 BSD4 或者 YAG 探测器进行成份分析

 

可视化及分析软件

 

蔡司Atlas 5-挑战多尺度分析

 

Atlas 5可以简化您的工作:以样本为中心的关联环境下为您创建多尺度、多模式的综合图片。Atlas 5集强大的硬件和易于操作的软件为一体,大大拓展了蔡司扫描电镜(SEM)的应用范围。

 

可视化及分析软件

 

蔡司推荐您使用Object Research Systems (ORS)  Dragonfly Pro

 

此解决方案可为X射线,FIB-SEMSEM以及氦离子显微镜获取的三维数据进行可视化三维重构和分析。

 

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可视化技术和优异的图形处理技术。Dragonfly Pro支持通过简单易用的Python脚本进行定制。用户可以掌控3D数据后期处理环境和流程

 

配件

 

集成式 EDS 解决方案

在低能量分析应用中同时实现高清晰度成像

 

Sigma Element 是一种集成式 EDS 解决方案,拥有高可用性和低电压灵敏度。仅需使用一台计算机来控制 EDS  SEM,进而大大提升了该集成化解决方案的易用性。同时,借助专门为显微镜和 EDS 操作设计的用户界面可实现并行控制。

集成化:通过集成化,结合高清晰成像与快速分析,从而获得不错结果

定制化:根据不同的用户需求定制软件

灵敏度:氮化硅窗口增强低能X射线的探测灵敏度

 

成像与扫描电镜联用系统

集成化的拉成像

 

获取样品中化学结构的指纹信息:聚焦拉曼光谱成像可扩展您的蔡司Sigma 360 扫描电镜性能。 分析获得样品分子结构和结晶信息。 通过拉成像与EDS数据可进行3D 分析并与SEM图像关联。集成化的拉成像扫描电镜联用系统使你充分发挥SEM和拉系统的功能。


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