天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪

天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪

产品说明、技术参数及配置

EDXThick800是一款全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

仪器配置

01 独立的X/Y/Z轴控制系统

02 微焦斑X光管 

03 可变高压电源

04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护

05 Fast-SDD探测器

06 双激光定位装置

07 标配可自动切换的准直孔和滤光片

软件优势

1、清晰化操作界面布局

简约的布局设计,让操作员快速的掌握软件基本操作。

2、快捷键按钮设计

增加了日常镀层测量快捷键设计按钮,可快速检测,提升工作效率。

3、高清可视化窗口

可清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过自动对焦、移动快捷键,调节到用户理想的观测效果。

4、多通道数字谱图界面

清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合先进的解谱技术,便可精准计算出结果。

5、测试结果汇总布局设计

可快速查找当前测试数据,并可对测试数据进行报告生成,且快速查询以往测试数据。

天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪应用行业：

航天新能源 

电子通讯 

电镀行业

高校及科研院 

贵金属镀饰 

磁性材料