致茂局部放电测试器MODEL 19501-K

致茂局部放电测试器MODEL 19501-K产品简介

Chroma 19501-K局部放电测试器内建交流耐电压测试(Hipot Test)与局部放电(Partial D i s c h a rge, PD)侦测功能于一单机，提供交流电压输出0 . 1 k V~10k V， 漏电流测量范围0.01μ A~300μA， 局部放电侦测范围1pC~2000pC，针对高压半导体组件与高绝缘材

料测试应用所设计与开发。

Chroma 19501-K局部放电测试器产品设计符合IEC60270-1法规，针对高电压试验技术中对局部放电测试要求，采用窄频滤波器 (Narrowband)量测技术进行PD放电量测量，并将量测结果以直观数值 (pC) 显示在屏幕上让用户清楚明了待测物测试判定结果。

产品设计上，除了符合IEC60270-1，同时也符合光耦合器IEC60747-5-5与VDE0884法规要求，内建IEC60747-5-5法规之测试方法于仪器内部，满足光耦合器产品生产测试需求，并提供用户便利的操作接口。

于生产在线执行高压测试时，如果待测物未能正确及良好连接测试线，将导致测试结果失败甚至发生漏测的风险，因此在测试前确保待测物与测试线良好连接是非常重要的。Chroma之高压接触检查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之组件，于高压输出时同步进行接触检查，增加测试有效性与生产效率。

在固体绝缘物中含有气隙或杂质混合在绝缘层时，额定工作高压状态下，由于较高的电场强度集中于气隙而产生局部放电 (Partial Discharge),持续性的局部放电会长久劣化周遭绝缘材，而影响电气产品之长久信赖性，而引起安全事故。

应用于电源系统之安规组件，如光耦合器，因考虑如果组件长时间发生局部放电对于绝缘材料的破坏，而发生绝缘失效的情况，进而引发使用者人身安全问题；因此，在IEC60747-5-5法规中提及，于生产过程中 (Routine test) 必须100%执行局部放电 (Partial discharge) 检测，在最大绝缘电压条件下不能超过5pC放电量，确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。

局部放电测试器主要针对高压光耦合器、高压继电器及高压开关等高绝缘耐受力之组件，提供高压的耐压测试与局部放电侦测，确保产品质量与提升产品可靠度。

致茂局部放电测试器MODEL 19501-K特点

■ 单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能

■ 可程序交流耐压输出 0.1kVac~10kVac

■ 高精度及高分辨率电流表 0.01μA~300μA

■ 局部放电(PD)侦测范围 1pC~2000pC

■ 高压接触检查功能( HVCC)

■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法规测试要求

■ 内建IEC60747-5-5测试方法

■ 量测与显示单元分离式设计

■ 三段电压测试功能

■ PD测量结果数值显示 (pC)

■ PD不良发生次数判定设定 (1~10)

■ 多语系繁中/ 简中/英文操作接口

■ USB画面撷取功能

■ 图形化辅助编辑功能

■ 标准LAN、USB、RS232远程控制接口